“2012安捷倫LTE技術(shù)研討會”在京召開

         12月29日，安捷倫科技（中國）有限公司于近日在北京麗亭華苑酒店成功舉辦了“2012安捷倫LTE技術(shù)研討會”。

　　LTE技術(shù)產(chǎn)品的開發(fā)離不開強(qiáng)大的測試技術(shù)和工具的支持。作為電子測試測量領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者，安捷倫科技積極面對LTE技術(shù)對電子測量測試領(lǐng)域的挑戰(zhàn)。依托強(qiáng)大的技術(shù)優(yōu)勢和深厚的測量測試開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，推出強(qiáng)大的測試平臺和測試工具，幫助工程師快速定位、消除在LTE產(chǎn)品在研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造等環(huán)節(jié)中的問題。

　　本次LTE技術(shù)研討會吸引了來自LTE基站至終端研發(fā)、生產(chǎn)各個領(lǐng)域的工程師及技術(shù)人員等200多人報(bào)名參加，安捷倫中國通信產(chǎn)品中心市場總監(jiān)MarioNarduzzi先生特意為本次大會做了熱情洋溢的開幕致辭。TD-Forum技術(shù)論壇秘書長時光先生受邀出席了本次會議，并在大會上就TD-LTE產(chǎn)業(yè)發(fā)展現(xiàn)狀和未來預(yù)測做了主題演講。來自創(chuàng)毅視訊的高級市場經(jīng)理徐征也在大會上分享了新一代LTE終端芯片進(jìn)展與成果。

　　在本次會議安捷倫介紹了涵蓋基站及終端LTE測試技術(shù)在內(nèi)的12個高技術(shù)含量的專題講座，并從LTEMIMO實(shí)時信號產(chǎn)生與多達(dá)8端口輸入的N7109A矢量信號分析方案、LTE移動終端認(rèn)證測試系統(tǒng)及E6607系列非信令生產(chǎn)測試、MIPI接口物理層和協(xié)議層測量、LTE元器件測試和外場手持系列、安捷倫優(yōu)勢校準(zhǔn)服務(wù)和現(xiàn)場校準(zhǔn)系統(tǒng)等5個角度，向與會者近距離全方位展示了安捷倫針對LTE從研發(fā)到生產(chǎn)再到校準(zhǔn)服務(wù)的全面解決方案。

　　“很高興看到安捷倫的測量解決方案能夠幫助從事LTE工作的工程師解決面臨的各種技術(shù)挑戰(zhàn)，”安捷倫中國通信產(chǎn)品中心市場總監(jiān)MarioNarduzzi先生說，“安捷倫多年來一直專注于中國4G標(biāo)準(zhǔn)的研究與測試產(chǎn)品的開發(fā)工作，為研發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造、認(rèn)證測試、外場安裝維護(hù)等方面提供各種精密高效的包括TD-SCDMA和TD-LTE在內(nèi)的各種無線通信測量解決方案。”