ICC訊 當(dāng)?shù)貢r(shí)間2024年3月26-28日,第49屆光網(wǎng)絡(luò)與通信研討會(huì)及博覽會(huì)(OFC 2024)在美國加利福尼亞州圣地亞哥會(huì)展中心隆重舉辦。維度科技作為專業(yè)的光通訊測(cè)試解決方案商,攜多款新品及測(cè)試解決方案亮相。展會(huì)期間,ICC訊石對(duì)話維度科技銷售總監(jiān)黃東旭先生,了解維度科技本次展會(huì)上備受矚目的產(chǎn)品方案。
在本屆OFC上,維度科技重點(diǎn)展示了1.6T/800G測(cè)試方案、可調(diào)諧光源&波長掃描測(cè)試系統(tǒng)、工程運(yùn)維解決方案及光通訊測(cè)試類、光電應(yīng)用類創(chuàng)新產(chǎn)品及設(shè)備。
重點(diǎn)展示1.6T/800G測(cè)試方案等創(chuàng)新產(chǎn)品方案
其中,1.6T/800G測(cè)試方案隨著各大光模塊廠商紛紛推出1.6T光模塊而備受矚目。據(jù)黃總介紹,維度科技的1.6T/800G測(cè)試方案能夠靈活地適應(yīng)多種測(cè)試需求,且產(chǎn)品范圍涵蓋了協(xié)議和信號(hào)測(cè)試、光學(xué)性能測(cè)試及端面清潔與檢測(cè)等豐富產(chǎn)品及設(shè)備。
新產(chǎn)品BERT800誤碼儀系列,首次在展會(huì)展出,包含便攜型、生產(chǎn)型和儀表型3種不同類型,可分別用于光模塊的批量生產(chǎn)、性能檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用等不同場(chǎng)景。
具有以下主要特點(diǎn):
采用控制板和可更換的接口板方式,降低長期使用成本;
配置靈活、支持800G OSFP、OSFP-DD、OSFP28等不同封裝的收發(fā)器模塊;
支持800GE 到100GbE;
可選熱生產(chǎn)型、便攜型和儀表型,適用于批量生產(chǎn)、性能驗(yàn)證、可靠性測(cè)試等;
采用優(yōu)化的散熱設(shè)計(jì);
提供標(biāo)準(zhǔn)的通訊協(xié)議、可以方便地與測(cè)試系統(tǒng)整合;
支持NRZ/PAM4,多種PRBS碼型可選;
支持FEC、支持多種均衡方式;
黃總還介紹道,波長掃描測(cè)試系統(tǒng)、工程運(yùn)維系列、測(cè)試類新品與光電應(yīng)用類新品也是本次維度科技的重點(diǎn)展示,均受到廣泛關(guān)注。
維度科技的波長掃描測(cè)試系統(tǒng)采用高精度可調(diào)諧激光源,提供亞皮米級(jí)波長分辨率?;贔reeDesign測(cè)試平臺(tái),用戶可根據(jù)需求定制系統(tǒng)配置。并具有高精度和高可靠性,光源可復(fù)用,能夠滿足復(fù)雜光通信網(wǎng)絡(luò)的多種測(cè)量需求。
而工程運(yùn)維系列則包括輸出信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)、鏈路整體性能測(cè)試、故障點(diǎn)定位排查、鏈路節(jié)點(diǎn)維護(hù)、端面檢測(cè)與清潔等。自主研發(fā)的高性能OTDR,自身配備了高穩(wěn)定光源和高精度光功率計(jì)。
維度科技的測(cè)試類新品則是多通道極性插回?fù)p儀和JumperRun光纖連接器一站式測(cè)試儀。據(jù)黃總介紹,多通道極性插回?fù)p儀通過全新的設(shè)計(jì)和技術(shù),完成多芯光纖IL、RL和極性三合一自動(dòng)測(cè)試,單通道測(cè)試時(shí)間低至1.5S。而JumperRun光纖連接器一站式測(cè)試儀能夠使生產(chǎn)工位簡(jiǎn)化為四合一,僅需一個(gè)工位,可同時(shí)測(cè)量IL、RL 、3D、Endface,實(shí)現(xiàn)光纖連接器高效、快速分析測(cè)量,并具有測(cè)量報(bào)告和數(shù)據(jù)保存的功能。
光電應(yīng)用類新品則包括BeamHere光斑分析儀,能夠全系列光束分析產(chǎn)品,光斑+M2因子+發(fā)散角。Laser Power Meter光電式激光功率計(jì),具有4種配置探頭,10mm探測(cè)窗口,分辨率10pW,400-1700nm波段。憑借前沿的測(cè)量技術(shù)和智能測(cè)量軟件,實(shí)現(xiàn)了對(duì)激光功率的極致精度測(cè)量。
維度科技亮相本次OFC,驚艷了客戶也驚艷了市場(chǎng)。除了以上多款測(cè)試及光電應(yīng)用類新品及方案外,維度科技也展出了多款經(jīng)典系列端面檢測(cè)、光學(xué)性能測(cè)試平臺(tái)及模塊,均受到現(xiàn)場(chǎng)廣泛關(guān)注。無一不在預(yù)示著國產(chǎn)檢測(cè)設(shè)備的崛起。
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