ICC訊 第49屆光網(wǎng)絡(luò)與通信研討會(huì)及博覽會(huì)(OFC) 正在美國加州圣地亞哥會(huì)展中心舉行。歡迎蒞臨EXFO #1017展位了解如下創(chuàng)新解決方案!
光子集成電路(PIC)
EXFO具有獨(dú)特的專利測試能力,在業(yè)績處于領(lǐng)先地位
從測試條形、裸片、晶圓級(jí)或封裝元件,到通過對(duì)無源和有源光學(xué)元件進(jìn)行高精度光譜表征來有效地將光傳送到器件上,EXFO的解決方案將精度和自動(dòng)化相結(jié)合,幫助企業(yè)應(yīng)對(duì)當(dāng)今的挑戰(zhàn)。
本次OFC EXFO會(huì)展示我們的兩種元件測試解決方案,歡迎蒞臨 1017展位一探究竟:
· 光子集成電路 (PIC) 的自動(dòng)測試將在獨(dú)特的新型多裸片測試探針臺(tái) OPAL-MD 上進(jìn)行展示。該測試站可對(duì)多個(gè)芯片進(jìn)行順序自動(dòng)測試,動(dòng)態(tài)調(diào)整測試條件、參數(shù)和結(jié)果處理。
· 我們的 CTP10 元件測試平臺(tái)簡化了光譜測試,減少了設(shè)置時(shí)間,并允許輕松重新配置測試,以包括 PDL、回波損耗甚至光電流。
800G/1.6T測試方案
EXFO為高速系統(tǒng)提供完整的從電到光的測試
我們的模塊化 400G、800G 和 1.6TB 解決方案可提供機(jī)架式或便攜式配置,為客戶的測試程序帶來極致的速度和靈活性。
解決方案包括
· FTBx-88800 系列:實(shí)驗(yàn)室 800G 測試解決方案(光學(xué)、DCO 和 LPO)
-首款支持 800G ZR 收發(fā)器的緊湊型便攜式驗(yàn)證工具
-1x800G、2x400G、8x100G 客戶端和 400G/800G DCO
-鏈路訓(xùn)練功能
-800G 多端口,包括 OSFP 和 QSFP-DD 測試端口
· BA-4000-L2 流量和比特分析儀:用于研發(fā)和制造的 800G/1.6T 測試儀(L2 流量、L1 誤碼率)
-利用 L2 幀進(jìn)行 BERT,用于 IEEE 802.3dj FECi 和 FECo 誤碼率測試
-實(shí)時(shí)流量 FEC 分析
-信號(hào)質(zhì)量極佳的本地電子接口
-強(qiáng)大的 RX EQ、CTLE、32 分路 FFE+DFE
EXFO還在本次OFC與眾多行業(yè)創(chuàng)新者聯(lián)合展示綜合解決方案,歡迎關(guān)注!