光斑分析儀新品發(fā)布--維度光電引領(lǐng)行業(yè)助力激光應(yīng)用！

  ICC訊 維度光電精耕細作，隆重推出BeamHere光斑分析儀系列。該系列包括相機式光斑分析儀、掃描狹縫式光斑分析儀和M2測試模塊，為您提供世界領(lǐng)先的高性價比激光光束質(zhì)量檢測全系列產(chǎn)品。

  No.1

  掃描狹縫式光斑分析儀

  國內(nèi)首創(chuàng)，維度光電突破性推出三個型號的掃描狹縫光斑分析儀系列，實現(xiàn)在190~2700nm范圍內(nèi)的光斑分析。采用狹縫刀口雙模式切換，將可測量光束直徑拓展至2.5μm~10mm范圍，在不外加衰減片的情況可測量更高的功率。

  刀口、狹縫雙模式

  BeamHere掃描狹縫式光斑分析儀不同型號都具有刀口與狹縫掃描兩個模式，可由軟件自主切換，以應(yīng)對不同大小光束的測試需求。

  微米級小光束測量

  在測量直徑小于20μm的極小光斑時，其它類型分析儀僅點亮幾個像素，無法反映光斑形態(tài)，BeamHere掃描狹縫式光斑分析儀用刀口法進行測試，優(yōu)勢顯著。

  0.1微米超高分辨率

  BeamHere掃描狹縫式光斑分析儀對于光斑的分辨率達到0.1μm，能更清晰準(zhǔn)確的反映光斑形貌，不會損失重要特征。

  高功率光束測量

  每次只會允許狹縫處的光透過并采集功率值，不會一次接收全部的光功率，這使得BeamHere掃描狹縫式光斑分析儀的可以測試近10W的高功率激光。

  No.2

  相機式光斑分析儀系列

  基于相機成像原理的BeamHere相機式光斑分析儀系列包含兩個型號，覆蓋可見光與近紅外寬譜波段，實現(xiàn)在400~1700nm范圍內(nèi)的光斑實時顯示與分析。

  超寬波段測量范圍

  短波紅外波段型號的光斑分析儀具有400~1700nm的光譜響應(yīng)范圍，覆蓋常規(guī)的可見光與近紅外波長的光斑測量需求。

  2D、3D實時顯示

  BeamHere相機式光斑分析儀在連續(xù)測量的模式下，可以以高幀率進行畫面刷新，對于光斑的變化做到實時反映，同時3D視圖也可以實時分析并可以任意視角查看。實時性是動態(tài)測試、光學(xué)系統(tǒng)調(diào)整或時間監(jiān)控方面的巨大的優(yōu)勢。

  非高斯光束測量

  相機式成像是由許多像素同時反饋出同一光斑截面不同位置的形態(tài)，所以即使能量分布不規(guī)則或非高斯分布含高階橫模的光斑，如平定光束、空心光束、貝塞爾光束等都能由相機款光斑分析儀準(zhǔn)確的測量。

  標(biāo)配六衰減片設(shè)計

  BeamHere相機式光斑分析儀，采用獨特的濾光片轉(zhuǎn)輪結(jié)構(gòu)，在轉(zhuǎn)輪內(nèi)最多可安裝6片不同波長不同衰減的濾光片，以最緊湊的方式實現(xiàn)最大的功率測量范圍，輕輕轉(zhuǎn)動即可完成濾光片更換，做到簡易操作、高效測量。

  兼得科研相機成像

  光斑分析相機和濾光片轉(zhuǎn)輪的可拆卸設(shè)計，極大拓展功能應(yīng)用，拆卸后的相機配合額外相機驅(qū)動軟件可滿足科研成像對于CMOS相機或短波紅機的應(yīng)用需求。

  No.3

  M2因子測試模塊

  適配相機式光斑分析儀與掃描狹縫光斑分析儀系列產(chǎn)品的M2測試模塊，針對激光的傳播質(zhì)量檢測，可測量M2、發(fā)散角、束腰位置、束腰直徑等光束質(zhì)量特性參數(shù)。

  No.4

  分析軟件

  維度光電自研的BeamHere光斑分析儀軟件，從邏輯設(shè)計到視覺呈現(xiàn)都以清晰簡潔、操作方便、交互友好為導(dǎo)向，考慮不同使用場景，為用戶打造實用高效的操作軟件。

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  關(guān)于維度光電-Dimension-labs

  維度光電-Dimension-labs隸屬深圳市維度科技股份有限公司，以助推突破技術(shù)壁壘、打破國外壟斷、加速國產(chǎn)化替代為使命，建立一站式光電產(chǎn)品服務(wù)平臺（Dimension-Labs），將互聯(lián)網(wǎng)電子商務(wù)與光電行業(yè)深度融合，形成創(chuàng)新型數(shù)字化產(chǎn)業(yè)生態(tài)鏈，提供一站式光電產(chǎn)品現(xiàn)貨、極速供應(yīng)服務(wù)，擁有交叉學(xué)科專業(yè)技術(shù)團隊，提供科研生產(chǎn)全流程技術(shù)合作、技術(shù)開發(fā)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋光機械、光學(xué)元件、光電檢測儀器、激光光源、光學(xué)成像鏡頭、科研相機、光束分析等。

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