昊衡科技 | OLI測試范圍升級(jí)至-100dB

  ICC訊 本文將介紹昊衡科技推出的OLI 光纖微裂紋檢測儀。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以簡單理解為，設(shè)備出光光源為白光，該光源分為兩路，一路在設(shè)備內(nèi)部作為參考光，一路進(jìn)入待測器件作為信號(hào)光，參考光和信號(hào)光在相同光程的地方會(huì)發(fā)生干涉，且誤差在百微米內(nèi)，這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。

  小編想跟大家聊的重點(diǎn)是OLI測試范圍升級(jí)至-100dB，意味著OLI能探測到光鏈路中任何高于-100dB的光學(xué)信號(hào)，且能對(duì)該位置進(jìn)行精確定位。小編給大家舉幾個(gè)例子，直觀感受-100dB的概念。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，APC接頭回?fù)p值≥-60dB，PC、UPC接頭回?fù)p值≥-50dB;實(shí)際測試中APC接頭法蘭對(duì)接回?fù)p值≥-70dB;光纖和芯片耦合完好回?fù)p值≥-70dB。

  圖1. 實(shí)測示意圖

  以下是OLI在-100dB測試范圍下檢測多通道FA端面，OLI外接8通道光開關(guān)，開啟多通道測試功能。

圖2. 多通道FA

圖3.8通道測試結(jié)果

  OLI應(yīng)用場景

  光纖微裂紋檢測

  光器件、光模塊測量

  硅光芯片測量

  PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測

    FA光纖陣列鏈路性能檢測

  目前，昊衡科技已完成新一代OLI儀器開發(fā)，參數(shù)性能進(jìn)一步提升，儀器測量長度已升級(jí)為1m，回?fù)p測量范圍可低至-100dB，歡迎廣大行業(yè)客戶來電咨詢測試。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級(jí)自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個(gè)國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。電話：027-87002165官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/公眾號(hào)：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”