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昊衡科技:OFDR測試光纖鏈路大插損-怎么測?

摘要:高分辨率光學(xué)鏈路診斷儀(OCI)基于光頻域反射技術(shù)(OFDR),能輕松測試出光纖鏈路損耗情況。OFDR測試插損方式為,依據(jù)事件點(diǎn)兩側(cè)瑞利散射信號幅值差異,其高分辨率特性可以定位到厘米級損耗點(diǎn)。

  ICC訊 高分辨率光學(xué)鏈路診斷儀(OCI)基于光頻域反射技術(shù)(OFDR),能輕松測試出光纖鏈路損耗情況。OFDR測試插損方式為,依據(jù)事件點(diǎn)兩側(cè)瑞利散射信號幅值差異,其高分辨率特性可以定位到厘米級損耗點(diǎn)。

圖1.高分辨光學(xué)鏈路診斷儀(OCI)

  借助環(huán)形器測試大插損光路

  測試樣品為可調(diào)光衰減器,測試鏈路如圖2所示:

圖2.借助環(huán)形器測試大插損裝置示意圖

  OCI測試整個光鏈路結(jié)果如圖3,距離-回?fù)p曲線在2.95719m位置出現(xiàn)最大回?fù)p峰值,對應(yīng)整個光傳輸鏈路。由于OCI儀器默認(rèn)顯示為反射式測量,而本鏈路中借助環(huán)形器是透射式測量,因此實(shí)際鏈路長度為顯示距離的兩倍5.91438m。該位置積分回?fù)p為-25.69dB,是環(huán)形器和可調(diào)光衰減器單向累積損耗總和。

圖3.OCI測試環(huán)形器連接可調(diào)光衰減器結(jié)果圖

  使用OCI單獨(dú)測試光纖環(huán)形器,損耗測試裝置如圖4。

圖4.環(huán)形器損耗測試裝置示意圖

圖5.OCI測試環(huán)形器結(jié)果圖

  測試結(jié)果如圖5,從圖中可以看出距離-回?fù)p曲線在1.86088m位置出現(xiàn)最大回?fù)p峰值(實(shí)際光纖環(huán)形器光鏈路長度為3.72176m),回?fù)p為-2.55dB,是環(huán)形器單向累積損耗總和。因此可調(diào)光衰減器插損為23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。使用功率計測試可調(diào)光衰減器插耗,測試裝置如圖6,測得可調(diào)光衰減器插耗為23.33dB,OFDR測量結(jié)果與功率計測量結(jié)果僅相差0.19dB。

  圖6.功率計測試可調(diào)光衰減器損耗裝置示意圖

  改變可調(diào)光衰減器插損,按照上述方法分別用OCI和功率計測試可調(diào)光衰減器插損值,下表為10次測量可調(diào)光衰減器插損值對比表。

表1.OCI和功率計測試插損對比表

      從表1可以看出OCI和功率計測試可調(diào)光衰減器插損對比誤差不超過0.3dB,且OCI測試值均比功率計測試值大,這是由于功率計測試鏈路時,比OCI測試鏈路多一個FC法蘭。借助光纖環(huán)形器,OCI可以透射式測量大插損鏈路總體損耗,測試結(jié)果和功率計測試結(jié)果對比準(zhǔn)確。
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