安捷倫科技(Agilent Technologies)日前宣布,為使用邏輯分析儀調(diào)試現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)提供業(yè)內(nèi)第一個商用動態(tài)探頭應用程序。
Agilent B4655A FPGA動態(tài)探頭邏輯分析應用程序明顯改善了調(diào)試Xilinx FPGA的工程團隊的工作效率,包括Virtex-II、Virtex-II Pro和Spartan-3系列。
新的應用程序與芯片上虛擬探頭技術交互,使得邏輯分析儀能夠為每個調(diào)試針腳測量最多64個內(nèi)部FPGA信號,而傳統(tǒng)邏輯分析儀則對每個調(diào)試針腳僅測量一個內(nèi)部FPGA信號。新的邏輯分析應用程序使得工程師能夠選擇要探測的新的內(nèi)部信號組,而不要求耗費大量時間重新匯編設計。
可編程邏輯可以處理高級電路功能,使設計工程師能夠靈活地滿足高要求項目的經(jīng)濟限制和市場限制。業(yè)內(nèi)正廣泛使用邏輯分析儀,進行FPGA調(diào)試和驗證。
直到現(xiàn)在,改變探測點有時需要花費幾個小時的時間,因為工程師必須改變設計,重新匯編FPGA,以選擇一組新的內(nèi)部信號。現(xiàn)在,設計人員可以使用FPGA動態(tài)探頭在幾秒鐘內(nèi)執(zhí)行相同的任務,為設計小組更快地檢驗Xilinx FPGA設計提供了一條新途徑。
在與安捷倫邏輯分析儀一起使用時,F(xiàn)PGA動態(tài)探頭允許設計人員同時選擇探測哪組內(nèi)部信號。此外,F(xiàn)PGA動態(tài)探頭具有:
?。?、對每個物理調(diào)試針腳,支持最多64個內(nèi)部探點,設計人員可以更好地在內(nèi)部查看信號,加快調(diào)試速度;
?。?、2X數(shù)據(jù)壓縮選項,最大限度地提高可以用于設計的針腳數(shù)量;
?。?、狀態(tài)分析模式和定時分析模式,第一次使得設計人員能夠靈活地查看一條電路,或把多條電路關聯(lián)起來,拓寬了調(diào)試功能;
?。础袴PGA設計工具中的內(nèi)部信號名稱自動映射到邏輯分析儀設置上,大大加快信號命名速度,減少手動設置錯誤。
FPGA動態(tài)探頭兼容新推出的Agilent 16900系列邏輯分析儀及Agilent 1680系列獨立式邏輯分析儀和1690系列PC主機式邏輯分析儀。