歡迎蒞臨 | 聯(lián)訊儀器攜800G TestHead 參加2023深圳光博會

  ICC訊 第24屆中國國際光電博覽會將于2023年9月6-8日深圳國際會展中心(保安新館)舉辦，聯(lián)訊儀器將攜400G/800G Test Head 參會，展位號:10A73，歡迎蒞臨指導(dǎo)!

400G/800G 光模塊測試解決方案

  分立測試解決方案

  基于獨(dú)立的臺式儀表，包括誤碼儀，示波器，時鐘恢復(fù)單元等，實(shí)現(xiàn)最大程度的靈活性

分立儀表400G/800G FR4 測試框圖

  集成式Test Head

  除傳統(tǒng)分立測試平臺外，聯(lián)訊儀器還提供高集成化Test Head

  MTP4101/MTP4102/MTP4104，支持10Gbps~400Gbps 光模塊測試

  MTP8102，支持800Gbps OSFP/QSFP-DD光模塊測試

  Test Head 特點(diǎn)

  Test Head集誤碼分析儀(BERT)，MCB測試板，TEC溫度循環(huán)控制系統(tǒng)為一體，實(shí)現(xiàn)不同溫度環(huán)境下高速光模塊的誤碼測試

  集成式MCB測試卡，實(shí)現(xiàn)靈活快捷的DUT MCB更換

  集成式誤碼儀平臺，省去額外的線纜連接，進(jìn)一步減少測試臺空間和成本

  集成TEC溫度控制系統(tǒng)，支持模塊溫度循環(huán)測試

Test Head 支持模塊類型及并行測試數(shù)量

  800G Test Head 2xFR4 測試框圖

800G Test Head 2xFR4 測試框圖

  核心儀表特點(diǎn)及介紹

  DCA6201 采樣示波器

  多種 Filter 可選，25.78/26.56/27.95/28.05Gbps，265625/28.9Gbaud PAM4

  通過 SIRC可擴(kuò)展filter 范圍(12.44Gbaud-56Gbaud)

  支持53Gbaud PAM4(SIRC)眼圖測試

  支持 50GPON OLT TDEC(SIRC)測試

  支持 NRZ和PAM4 的測試

  56G 波特率時鐘恢復(fù)單元

  聯(lián)訊儀器CR6256時鐘恢復(fù)單元，支持24.8832~32.5 Gbaud/49.7664 ~56Gbaud速率下的NRZ/PAM4信號時鐘提取，廣泛應(yīng)用于單波53 Gbaud光模塊及接口提取時鐘

  單多模一體集成，可支持單模和多模光信號時鐘恢復(fù)

  高靈敏度

    12dBm @ 53.125 Gbaud PAM4

  14dBm @ 26.5625 Gbaud PAM4

  低抖動，恢復(fù)時鐘隨機(jī)抖動典型值 290fs

  800G誤碼儀

  聯(lián)訊儀器PBT8812高速串行誤碼儀，支持24.33~56.25 Gbaud符號速率，完全覆蓋 200/400/800Gbps 光模塊測試場景

  各通道可獨(dú)立配置為NRZ或PAM4信號制式

  支持接收端電眼直方圖及信噪比測量

  支持 3 階/7 階模式下，發(fā)射端的預(yù)加重及去加重調(diào)制

  支持真實(shí)FEC產(chǎn)生和測試分析

  關(guān)于聯(lián)訊

  聯(lián)訊儀器是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備提供商。主要專注于光網(wǎng)絡(luò)測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試。可以提供包括高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計、光譜儀，通用數(shù)字源表等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE， 激光器芯片老化機(jī)，激光器芯片測試機(jī)，硅光晶圓測試機(jī)，功率芯片測試機(jī)，晶圓老化機(jī)等高端測試設(shè)備。

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