MultiLane TIA及RF driver芯片測試方案

  ICC訊 跨阻放大器（TIA）及RF driver芯片不論今天還是未來都是光模塊輸出信號質量好壞的重要器件。對于TIA、RF driver的特性的測量包括頻域和時域，傳統(tǒng)的測試方法會使用矢量網(wǎng)絡分析儀或采樣示波器等方式來進行3dB帶寬、線性度和設備噪音等的測量，這些測試方法通道數(shù)量有限對于多通道TIA測量不得不多次切換通道影響測試效率，同時這種配合也價格不菲。

  MultiLane根據(jù)客戶的需求開發(fā)了TIA芯片測試套件即減少了測試時間也提高了測試效率，并能保證測試的準確性。在實驗室的應用當中，ML4035集誤碼儀、采樣示波器及網(wǎng)分功能三為一體的4通道多用途高速測試設備，可稱之為高速信號測量的萬用表。

  當測量TIA或RF Driver時，可通過S參數(shù)測量功能測試信號鏈路的損耗，如射頻線纜、PCB trace、連接器等。同時將S參數(shù)代入后進行實際的S參數(shù)測量，得到正確的Sdd21 vs Gain/3dB Bandwidth。在給定的范圍內，可變增益放大器和TIA的輸出隨著輸入線性變化，一些RF放大器和TIA具有帶寬控制輸入，必須對其影響進行分析。

  ML4035還可以根據(jù)客戶的不同需求分析，阻抗、回損等相關的頻域特性參數(shù)。

  THD作為TIA的重要指標，可以通過ML4035的PPG產生正弦波，經過TIA后通過采樣示波器的頻域轉化測量功能測量THD的數(shù)值。

  線性度RLM及Noise的測量同樣可以通過BERT及采樣示波器的功能，進行基于IEEE802.3的RLM進行測量，沒有任何輸入的TIA真實noise測量。作為一個多功能的解決方案除了能滿足各類TIA、RF Driver的實驗室參數(shù)測量，產線測試速度也是ML4035的一大特點，通過API編程只要4、5秒的時間就能完成帶寬、THD和noise的測量。

  同時，MultiLane還提供ATE測試方案，可對TIA、RF driver、SerDes及計算機相關高速接口進行晶圓等級的測試，可以同時進行32個通道的測量，大大的增加了測試的吞吐量。

  在TIA及RF Driver芯片上，MultiLane不論在實驗室還是芯片產測都為用戶提供了不同方案的可能，迅速提高客戶的研發(fā)及生產速度。

  如需了解更多關于TIA、RF Driver或高速I/O的實驗室及芯片產測方案可以聯(lián)系深圳市唐領科技有限公司，0755-23917251，sales@te-lead.com。