《數據中心互連》白皮書系列 免費下載！

  ICCSZ訊 近日，是德科技發(fā)布了《數據中心互連》白皮書系列，內容包含了相干光通信、集成光電，以及能夠達到和超越 400G 速度的 400ZR 等新興技術。

  隨著互聯網流量的持續(xù)指數型增長，5G、物聯網(IoT)和AR/VR技術對數據中心提出的更高的要求(更大容量、更快的響應速度)，目前數據中心網絡還普遍采用100G光模塊，預計2020年2021年將開始大規(guī)模部署400G光模塊，未來400G 解決方案在 400ZR 和 400GBASE-ZR 等新標準的支持下，可以提供很大的優(yōu)勢和靈活性，滿足不斷增長的數據需求。

  集成光子學技術和相干光技術都會推動數據中心互連的變革。首先，集成光子學提供了一種解決方案，可以在實現太比特級數據流量的同時降低功耗和成本，但是測試變得復雜，需要使用與傳統集成電路設計工具和方法不同的專用測試工具和測試方法。

  其次，出于成本考慮，過去相干光技術僅適用于長距離通信網絡，然而，400ZR 和 400GBASE-ZR 等新標準使相干光技術也能用于數據中心互連。集成光子學和 400ZR 標準的新發(fā)展使相干光技術成為首選的高速數據中心互聯解決方案使用相干光技術可以在單條光纖線路上傳輸太比特級信息，并且能靈活地滿足不斷增長的數據需求。但是對于元器件和器件制造商而言，測試是一項重大挑戰(zhàn)。支持光收發(fā)信機的高速硅器件的開發(fā)進度比光器件大約滯后了一年。測試設備可以生成并分析含有光減損的 16-QAM 64 Gbaud 信號，讓制造商能夠針對太比特級應用來測試自己的元器件和器件。

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