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【CIOE2017】維勘科技:優(yōu)秀3D干涉儀幫助企業(yè)提高品質(zhì)

摘要:訊石采訪精密檢測設(shè)備商維勘科技,了解其3D干涉儀的優(yōu)勢。

  Iccsz訊(編輯:Aiur) 設(shè)備儀器是通訊領(lǐng)域不可或缺的部分,在CIOE2017上,數(shù)百家設(shè)備儀器商展出自己的優(yōu)勢產(chǎn)品。9月7日,訊石來到杭州維勘科技股份有限公司(展位:6號館6065、6066、6067),了解這家無源光器件檢測儀器商在本次CIOE上重點(diǎn)展出的產(chǎn)品。

  維勘科技總經(jīng)理于宏波先生和銷售經(jīng)理汪彬彬女士接受訊石采訪,于總表示維勘科技的創(chuàng)始人,浙江大學(xué)教授汪凱巍博士看到了光通訊市場的需求旺盛以及國外設(shè)備的壟斷,決定投身于光通訊設(shè)備儀器領(lǐng)域,經(jīng)過潛心研究成功推出國產(chǎn)3D干涉儀、自動分揀機(jī)等設(shè)備。

  眾所周知,設(shè)備儀器是需要不斷地進(jìn)行研發(fā)投入,維勘科技是杭州市“青藍(lán)計(jì)劃”和高薪技術(shù)企業(yè),除了自身花費(fèi)大量資金用于設(shè)備研發(fā),杭州政府也給公司極大的支持。得益于多方面有利因素,維勘科技自主設(shè)計(jì)研發(fā)的3D干涉儀成為國內(nèi)首屈一指的無源器件檢測設(shè)備。

WKFI-2SX 3D干涉儀

WFI-M 3D干涉儀

  “3D干涉儀從技術(shù)層面來說,國產(chǎn)設(shè)備與國外同步。目前中國是全球最大光通訊市場,給了國產(chǎn)設(shè)備發(fā)揮的機(jī)會,光纖跳線產(chǎn)量極大,而光纖端面指標(biāo)要求很高,維勘致力于幫助光器件生產(chǎn)企業(yè)更好地發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)中的問題,提高出貨品質(zhì)”,于總?cè)绱苏f道。維勘在今年CIOE上重點(diǎn)展示其最新研發(fā)的光纖端面3D干涉儀。于總向訊石介紹:“傳統(tǒng)上,3D干涉儀測量范圍在-150~150nm,使得超低或超高的纖高往往被誤判為良品,但超高和超低又是當(dāng)前光器件生產(chǎn)普遍現(xiàn)象。維勘通過獨(dú)創(chuàng)的頻率合成技術(shù),將測量范圍擴(kuò)大至7000nm,測量速度僅為0.7秒,還原更真實(shí)的纖高結(jié)果,更嚴(yán)格地檢測出次品。”

  維勘科技在3D干涉儀研發(fā)上開創(chuàng)出自己的技術(shù),產(chǎn)品成功獲得了中國計(jì)量科學(xué)研究院出具的檢測報(bào)告(證書編號:CDjc2017-519)

  維勘科技具備先進(jìn)成熟的技術(shù),同時(shí)趕上了市場風(fēng)口,2017年包括華為中興在內(nèi)等眾多企業(yè)要求下游供應(yīng)商在生產(chǎn)光纖連接器時(shí)進(jìn)行端面3D全檢,帶動檢測設(shè)備市場的旺盛。光纖端面3D干涉儀一種測量精度高、速度快、非接觸的檢測設(shè)備,被越來越多的光器件廠家重視,成為檢驗(yàn)光纖連接器生產(chǎn)品質(zhì)的重要手段。

陶瓷插芯內(nèi)徑自動分揀機(jī)

  除了3D干涉儀,維勘科技在陶瓷插芯檢測方面也有優(yōu)秀產(chǎn)品上市。隨著無源器件技術(shù)門檻降低,品質(zhì)和規(guī)模是競爭力的關(guān)鍵,而關(guān)鍵中的關(guān)鍵是實(shí)行自動化生產(chǎn)。維勘推出的WKID系列陶瓷插芯內(nèi)徑自動分揀機(jī)可以幫助企業(yè)降低用工成本,自動化效率幫助企業(yè)提升陶瓷插芯檢測速度與精度。

       CIOE2017維勘科技展位:6號館6065、6066、6067,歡迎業(yè)界同仁咨詢交流。

維勘團(tuán)隊(duì)與訊石合影(左四于總,左三汪經(jīng)理)

  杭州維勘科技于2012年由著名海歸博士汪凱巍教授帶領(lǐng)團(tuán)隊(duì)成立,2013年成功推出產(chǎn)品,經(jīng)過數(shù)年發(fā)展,維勘科技產(chǎn)品通過了國家權(quán)威機(jī)構(gòu)認(rèn)證并獲得業(yè)內(nèi)客戶的高度認(rèn)可。維勘科技制造出的自動光纖端面干涉儀、手動光纖端面干涉儀、單多芯一體光纖端面干涉儀、光纖陶瓷插芯同心度檢測儀、光纖陶瓷插芯內(nèi)徑自動分揀機(jī)等多款精密檢測設(shè)備獲得市場客戶認(rèn)可,成功積累出優(yōu)秀的市場口碑,現(xiàn)在還有多項(xiàng)光學(xué)項(xiàng)目在立項(xiàng)研發(fā)中,訊石期待維勘的精密檢測設(shè)備未來更加精確強(qiáng)大,產(chǎn)品更加多元化。

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關(guān)鍵字: 維勘 汪凱巍 3D干涉儀
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