9月2-3日●杭州維勘將攜FA光纖陣列測量儀器參展訊石第十八屆研討會

       ICCSZ訊 9月2-3日，訊石第十八屆光纖通訊市場暨技術專題研討會(以下簡稱：第十八屆訊石研討會)將在深圳大中華喜來登酒店六樓宴會廳隆重來襲，目前會議報名企業(yè)已超過270家，參會人數超600人次。

       本屆研討會現(xiàn)場精設展位，杭州維勘將攜FA光纖陣列干涉儀、FA光纖陣列檢測儀等產品參展，展位號：A6，誠邀業(yè)界朋友及新老客戶前往維勘展臺觀展交流。

       杭州維勘在本屆研討會展出的主要產品如下：

       WKFI-FA是測量FA光纖陣列端面3D指標的專用儀器，采用非接觸式白光和紅光干涉原理，選用高端光學顯微系統(tǒng)、超清晰的高速相機，測量具有很高的重復性和復現(xiàn)性。夾具采用可快速更換的方案，可以適應客戶不同規(guī)格產品的測量需求。

       可以測量2.0×1.0、2.0×2.0、3.5×1.2等多種規(guī)格FA光纖陣列，可以根據客戶要求定制夾具。

       自動校準、自動對焦、自動識別端面面型，先進高效的自動對焦模塊，自動識別端面面型并從最佳位置開始掃描，無需任何硬件調整即可完成測量。

       完美的3D圖像，通過拖動鼠標可輕易掌握任意位置的光纖剖面及3D圖像，方便用戶直觀了解產品端面研磨狀況并進行工藝改進。

       穩(wěn)定且高速的數據傳輸，緊固式的USB3.0接口，極大地提高了測量的穩(wěn)定性及抗震性，在任何情況下都擁有穩(wěn)定而高速的數據傳輸。

FA光纖陣列檢測儀

       WKVG的測量對象是光纖通信部分的V槽板和光纖陣列，這些光通信部件的制造精度很高，以使連接損耗降到最低，并保持相同形狀的高密度。

       優(yōu)秀的光學設計，針對127μm、250μm、500μm槽距的產品，可通過更換光機放大倍率的方式來獲得針對不同檢測樣品的最好的分辨率。特殊設計的光源能夠獲得清晰干凈的原始圖像，高分辨率的工業(yè)相機提高識別效率和精度。

       超大的工作臺面，最大可以支持對80mm×80mm的裸基板進行檢測。

       豐富的夾具配置，平臺前端使用專用夾具對產品進行夾持，通過更換夾具即可提供對各種成品、半成品、非標品的夾持，Z軸平臺可根據不同樣品厚度調整高度，確保最佳的光照成像。

       精密的自動控制，搭載精密自動對焦、自動位移系統(tǒng)，實現(xiàn)高精度、高可靠的測量。

       基于圖像分析的測量，通過機器視覺對圖像進行X、Y軸距離的誤差累積分析，先進的算法可以補償機械平臺移動造成的誤差。

       關于維勘

       維勘科技成立于2012年，位于杭州市濱江區(qū)海外高層次人才創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)基地，是“國家高新技術企業(yè)”、“杭州市青藍計劃企業(yè)”、“杭州市5050計劃企業(yè)”。

       維勘科技由著名海歸博士帶頭，聯(lián)合浙江大學、中國計量大學，打造高素質、高水平的研發(fā)團隊，引領行業(yè)快速發(fā)展。在視覺檢測、圖像算法、軟件編程、機械設計、自動化領域積累了豐富經驗，目前已取得多項發(fā)明專利和實用新型專利。

       維勘科技歷經多年的發(fā)展，已經制造出多款精密檢測設備?！癕T插芯端面研磨機、FA光纖陣列檢測儀、FA光纖陣列端面3D干涉儀、單芯光纖連接器端面3D干涉儀、MPO多芯光纖連接器端面3D干涉儀、MPO帶纖線序檢測儀、光纖端面缺陷檢測儀、陶瓷插芯內徑分揀機”等儀器已服務眾多企業(yè)用戶。產品通過國家權威機構認證并獲得業(yè)內客戶的高度認可，部分產品已遠銷國外市場。

       2017年10月23日，維勘科技在“全國中小企業(yè)股份轉讓系統(tǒng)”（新三板）成功掛牌，股票代碼：872259。為了適應公司日益增長的發(fā)展需要，維勘科技成立了全資子公司杭州維勘精儀技術有限公司（簡稱“維勘精儀”）獨立開展光通訊領域三維視覺精密生產檢測技術的研發(fā)、生產、銷售業(yè)務。

       順應國家“智能制造”戰(zhàn)略規(guī)劃，維勘不斷進取，憑借三維視覺精密生產檢測技術，助力越來越多的行業(yè)用戶提升國際競爭力。

       歡迎業(yè)內人士光臨展臺，并且關注本公司網站：www.hzwekontech.com及微信公眾號：維勘科技，咨詢電話：0571-89987791/89987795/85808821，15397087012汪經理